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Bafan Instrument Equipment (Shanghai) Co., Ltd.
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Sistema completamente automatico della stazione della sonda di livello del wafer MPI
Sistema di sonda a livello di wafer completamente automatico MPI
Dettagli del prodotto

TS3500 Probe System

Il TS3500 e il TS3500-SE hanno le stesse funzionalità delle ben note stazioni sonda TS3000 e TS3000-SE 300mm di MPI e possono essere configurate o aggiornate con l'esclusivo WaferWallet di MPI ™ E ha funzioni completamente automatizzate. La soluzione MPI riduce il costo complessivo dei test per i clienti fornendo meno funzionalità completamente automatizzate rispetto ai prodotti semi automatizzati di altri fornitori. Vantaggi:

  • Adatto per varie applicazioni di misura wafer
  • Module Measurement - DC-IV, DC-CV, Pulse-IV, ESD, 1/f
  • Onda RF e millimetrica da -26 GHz a 110 GHz e oltre
  • Prove di affidabilità - prove di stress precise
  • Suite software avanzata per il controllo dei test
  • Gamma di temperatura di supporto -60 ° C a 300 ° C
  • MPI ShielDEnvironment ™ Ambiente di protezione
  • Un ambiente di misura di precisione progettato specificamente per la schermatura EMI/RFI/Light Time
  • Sostegno alla misurazione di perdite basse a livello di sicurezza aerea
  • Campo di misura della temperatura da -60 ° C a 300 ° C

Caratteristiche e vantaggi

WaferWallet ™

La pratica comune per la caratterizzazione dei dispositivi nella modellazione e nello sviluppo di nuove tecnologie è quella di estrarre i dati dai chip tipici attraverso misure estremamente accurate IV-CV, 1/f, RF, mmW e tensione di carico. WaferWallet da MPI ™ Ampliate le funzioni di automazione della serie TS3500 senza compromettere le capacità di misura. WaferWallet ™ Ci sono cinque vassoi separati progettati per caricare manualmente wafer "modello" da 150mm, 200mm o 300mm in modo ergonomico, consentendo test completamente automatizzati con fino a cinque chip identici a temperature diverse.

Scambio di wafer di silicio caldo e freddo

Durante il carico e lo scarico dei wafer, non è più necessario riportare il mandrino alla temperatura ambiente. Uso di WaferWallet ™, MPI mantiene il mandrino a qualsiasi temperatura di prova attraverso la sua esclusiva funzione di carico/scarico del wafer, risparmiando tempo prezioso.

automazione dei test

Utilizzando un indicatore di tacca per un allineamento manuale grossolano semplice ed economico, il caricamento iniziale del wafer è veloce e affidabile. A seconda del metodo operativo, altre opzioni includono pre allineatore wafer, lettore ID o funzione PTPA su TS3500-SE, tutte caratteristiche aggiuntive che migliorano il livello di automazione.

SENTIO ® sistema di controllo

SENTIO di MPI ® La suite software 3.0 con design GUI avanzato si basa sulla rivoluzionaria tecnologia brevettata: multi touch, funzionamento intuitivo; GUI a singola finestra, simile ai comuni dispositivi mobili; Vista dashboard dello stato del sistema, che semplifica la navigazione; Guida operativa intelligente e prevedibile; Aggiornamento gratuito della durata della stazione sonda. Attraverso WaferWallet ™ Una semplice visualizzazione del cruscotto in cui l'operatore può identificare vassoi caricati o vuoti, diametro del chip (150 o 200 o 300 mm), orientamento piano/tacca, chip ID (se applicabile), percentuale di WaferMap testato e altro ancora.

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