Prisma &Prisma EXMicroscopio elettronico a scansione di analisi del filo di tungsteno a vuoto multifunzione ambientale

• Microscopio elettronico a scansione a fila di tungsteno SEM con prestazioni complete e facile da usare in un laboratorio veramente multiuso
• Con ESEM esclusivo ™ Modalità vuoto ambientale
• Alto vuoto, basso vuoto ed ESEM ™ Vuoto ambientale tre modalità di vuoto, adatte per l'analisi del campione più ampio, la gamma di campioni comprende materiale elettricamente conduttivo, materiale non conduttivo, degassamento, non rivestito o altri campioni non applicabili al vuoto.
• Una gamma integrata di software di analisi in tempo reale per completare analisi dinamiche di rilevamento sperimentale.
• Il vuoto a basso vuoto e il vuoto ambientale ESEM soddisfano le analisi di rilevamento dei materiali non conduttivi e dei campioni con imposta
• La funzione in situ consente di ottenere risultati di analisi affidabili anche su campioni isolati o ad alta temperatura.
• Supporta le impostazioni pre-scansione, le fotocamere con navigazione e SmartScanTM migliorano la produttività, la qualità dei dati e soddisfano esigenze di utilizzo più elevate.
• Analisi in situ tra -165°C e 1400°C
• Tensione di accelerazione: 200 V - 30 kV
• Moltiplicatore di ingrandimento elettronico: 6x – 1.000.000x (può acquisire e visualizzare quattro immagini contemporaneamente)
• rilevatore: rilevatore elettronico secondario Everhart-Thomley in modalità ad alto vuoto (E-T SED); rilevatore SE a basso vuoto (LVD); rilevatore elettronico secondario di gas in modalità vuoto ambientale ESEM (GESD); Camera CCD a infrarossi
• Sistema di vuoto: 1 pompa turbomolecolare da 250L/s, 1 pompa meccanica rotativa; sistema di vuoto a pressione differenziale brevettato "attraverso le lenti"; Tempo di scarico ≤3.5min ad alto vuoto, ≤4.5min a vuoto ESEM / basso vuoto; Trappola fredda CryoCleaner opzionale; Aggiornamento opzionale a PVP a rotolamento/secco senza olio
• Camera campioni:

Diametro interno 340 mm

Distanza di lavoro di analisi 10 mm

12 interfacce per accessori

Angolo di raccolta EDS: 35°

• Risoluzione:

高真空模式

• 3,0 nm @ 30 kV (SE)
• 4,0 nm a 30 kV (BSE)*
• 8,0 nm @ 3 kV (SE)

Modalità di rallentamento ad alto vuoto

• 7,0 nm a 3 kV

Modalità basso vuoto

• 3,0 nm @ 30 kV (SE)
• 4,0 nm a 30 kV (BSE)
• 10 nm a 3 kV (SE)

• Vuoto ambientale ESEM
  • 3,0 nm @ 30 kV (SE)