Lo strumento più recente della serie Scientific ZSX, ZSX Primus segue la tradizione di fornire risultati puntuali e precisi, con affidabilità, flessibilità e semplicità ineguagliabili adatti alle varie sfide dei laboratori di oggi. Con l'esperienza scientifica che continua a superare le aspettative degli utenti, ZSX Primus è diventato la scelta preferita per tutti i prodotti a raggi X.
ZSX Primus consente l'analisi flessibile di campioni complessi. Il tubo finestra ultrasottile di 30 μm garantisce la sensibilità dell'analisi degli elementi leggeri. I pacchetti di mappatura più avanzati rilevano omogeneità e mescolanze. ZSX Primus è completamente attrezzato per affrontare le sfide dei laboratori del XXI secolo.
Caratteristiche:
Scopo di analisi: Be-U
Più piccola superficie
Analisi microzonale
Progettazione sotto
Finestra ultrasottile 30 μm
Mapping: distribuzione degli elementi
He sigillato: la camera del campione è sempre sotto vuoto
ZSX Primus
Rigaku ZSX Primus fornisce una rapida misurazione quantitativa degli elementi atomici primari e secondari dal berilio (Be) all'uranio (U) con una vasta gamma di campioni - con standard minimi.
Analisi elementare potente e flessibile
Come strumento più recente della serie Rigaku ZSX, ZSX Primus continua la tradizione di fornire risultati accurati in modo tempestivo e senza problemi per affrontare qualsiasi sfida dei laboratori di oggi con affidabilità, flessibilità e facilità di utilizzo eccellenti.
Basse prestazioni Z con mappatura e analisi multipunto
Con prestazioni e flessibilità eccezionali per analizzare i campioni più complessi, ZSX Primus dispone di un tubo da 30 micron, il tubo finestra terminale più sottile del settore per il rilevamento di elementi spettrali estremamente bassi (bassa Z). In combinazione con i pacchetti di test più avanzati per rilevare l'uniformità e l'inclusione, ZSX Primus consente di effettuare facilmente indagini dettagliate sui campioni per fornire informazioni analitiche difficili da ottenere con altri metodi di analisi. L'analisi multipunto disponibile aiuta anche a eliminare gli errori di campionamento in materiali non uniformi.
Parametri di base di SQX con il software EZ-scan
La scansione EZ consente agli utenti di analizzare campioni sconosciuti senza impostazione anticipata. La funzione di risparmio di tempo richiede solo pochi clic del mouse e l'inserimento del nome del campione. In combinazione con il software parametrico di base SQX, può fornire i risultati XRF più accurati e veloci. SQX corregge automaticamente tutti gli effetti della matrice, compresa la sovrapposizione delle linee. SQX può anche correggere l'effetto di eccitazione secondaria di fotoelettronica (luce e elementi ultraleggeri), diverse atmosfere, impurità e diverse dimensioni di campione. L'utilizzo di librerie di corrispondenza e un programma di analisi di scansione perfetto migliora la precisione.
Caratteristiche
Analisi elementare da Be a U
Piccola superficie e spazio di laboratorio limitato
Traceanalisi per analizzare campioni fino a 500 μm
Progettazione sotto tubo ottimizzata per polveri liquide e sciolte
I tubi a 30 μm offrono eccellenti prestazioni di elementi leggeri
Geografia/distribuzione degli elementi della funzione di mappatura
La tenuta all'elio significa che l'ottica è sempre sotto vuoto